Knygos pagal Taeho Kim
Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Wei-Ting Kary Chien, Taeho Kim, Way Kuo
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Taeho Kim, Wei-Ting Kary Chien, Way Kuo
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
Combat Identification Modeling Using Robust Optimization Techniques
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją