Knygos pagal Nor Hisham Bin Hamid

An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits: Introducing Fault-Tolerance With Higher Noise-Immunity For The Nano-Circuits As Compared To CMOS And MRF Designs

Vijanth Sagayan Asirvadam, Nor Hisham Bin Hamid, Jahanzeb Anwer

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį