Knygos pagal Frontiers in Electronic Testing

Embedded Processor-Based Self-Test

Dimitris Gizopoulos, A. Paschalis, Yervant Zorian

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Introduction to IDDQ Testing

Paul J. Thadikaran, S. Chakravarty

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

A Designers Guide to Built-In Self-Test

Charles E. Stroud

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

R. Dean Adams

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Krishnendu Chakrabarty

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

M. Bushnell, Vishwani Agrawal

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Shi-Yu Huang, Kwang-Ting (Tim) Cheng

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Peter Y. K. Cheung, José T. de Sousa

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

On-Line Testing for VLSI

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Kwang-Ting (Tim) Cheng, Angela Krstic

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach

A. P. Thijssen, F. P. M. Beenker, R. G. Bennetts

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design

Xinghao Chen, Michael L. Bushnell

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications

Wojciech Maly, Jitendra B. Khare

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Multi-Chip Module Test Strategies

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Erik Larsson

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Elements of STIL: Principles and Applications of IEEE Std. 1450

Gregory A. Maston, Julie N. Villar, Tony R. Taylor

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Verification by Error Modeling: Using Testing Techniques in Hardware Verification

Zeljko Zilic, Katarzyna Radecka

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns

Said Hamdioui

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Leendert M. Huisman

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Advances in Electronic Testing: Challenges and Methodologies

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Diego Vázquez García de la Vega, José Luis Huertas Díaz, Gloria Huertas Sánchez, Adoración Rueda Rueda

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

José Pineda de Gyvez, Manoj Sachdev

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Prithviraj Kabisatpathy, Satyabroto Sinha, Alok Barua

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs

Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį

Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Peter Y. K. Cheung, José T. de Sousa

Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją

Į krepšelį