Electron Beam Testing Technology -
-25% su kodu BOOKS
Pristatymas per 22-28 d.d.
30 dienų grąžinimo politika
Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing. While ICs were being fabricated on design rules of several microns, the mechanical ne edle probe served quite adequately for inter ... Visas aprašymas
Jums taip pat gali patikti
TOP
Biology: A Global Approach, Global Edition
Neil Campbell, Rebecca Orr, Lisa Urry, Peter Minorsky, Michael Cain, Jane Reece, Steven Wasserman
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Six Not-so-easy Pieces: Einstein's Relativity, Symmetry, and Space-Time
Richard P. Feynman, Robert B. Leighton, Matthew Sands
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Determined: The Science of Life Without Free Will
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Age of Alchemy: How Early Innovators Shaped Modern Chemistry
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Secrets of our DNA: How Genetics has Changed the World
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Janeway's Immunobiology
Leslie J. Berg, Kenneth Murphy, Casey Weaver
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Why We Sleep: Unlocking the Power of Sleep and Dreams
-25% su kodu BOOKS
Yra sandėlyje
TOP
Factfulness: Ten Reasons We're Wrong About the World--and Why Things Are Better Than You Think
Ola Rosling, Anna Rosling Rönnlund, Hans Rosling
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Light Eaters: How the Unseen World of Plant Intelligence Offers a New Understanding of Life on Earth
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Six Easy Pieces: Essentials of Physics Explained by Its Most Brilliant Teacher
Richard P. Feynman, Robert B. Leighton, Matthew Sands
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Rise and Fall of the Dinosaurs: A New History of a Lost World
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Rise and Reign of the Mammals: A New History, from the Shadow of the Dinosaurs to Us
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Learn Faster, Perform Better: A Musician's Guide to the Neuroscience of Practicing
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Why Machines Learn: The Elegant Maths Behind Modern AI
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Beyond Inheritance: Our Ever-Mutating Cells and a New Understanding of Health
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
On the Origin of Species
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
The Feynman Lectures on Physics. The New Millennium Edition
Matthew Sands, Robert Leighton, Richard Feynman
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
How to Solve it: A New Aspect of Mathematical Method
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
TOP
Thing Explainer: Complicated Stuff in Simple Words
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją
Aprašymas
Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing. While ICs were being fabricated on design rules of several microns, the mechanical ne edle probe served quite adequately for internal chip probing. This scenario changed with growing device complexity and shrinking geometries, prompting IC manufacturers to take note ofthis new testing technology. It required several more years and considerable investment by electron beam tester manufacturers, however, to co me up with user-friendly automated systems that were acceptable to IC test engineers. These intervening years witnessed intense activity in the development of instrumentation, testing techniques, and system automation, as evidenced by the proliferation of technical papers presented at conferences. With the shift of interest toward applications, the technology may now be considered as having come of age.
Daugiau informacijos
| Leidėjas | Springer Us |
|---|---|
| Išleidimo metai | 1993 |
| Viršelio tipas | Kieti viršeliai |
| EAN | 9780306443602 |