Knygos pagal Tackhwi Lee
Produktų, atitinkančių pasirinkimą, nerasta.
-25%
Device characterization of Dy-incorporated HfO2 gate oxide nMOS device: Device characteristics and reliability of DyO/HfO gate dielectrics and the application to NAND Flash memory
63,69 €
84,92 €
-25% su kodu BOOKS
Turime sandėlyje pas mūsų tiekėją